Semiconductor analysis

Die Fehleranalyse ist der Prozess der Datenerfassung und -analyse zur Ermittlung der Fehlerursache , oft mit dem Ziel, Korrekturmaßnahmen einzuleiten oder die Haftung festzustellen.

Die Rasterkraftmikroskopie ( AFM ) oder Rasterkraftmikroskopie ( SFM ) ist eine hochauflösende Art der Rastersondenmikroskopie (SPM) mit einer nachgewiesenen Auflösung in der Größenordnung von Bruchteilen eines

Mithilfe eines Tauc-Plots lässt sich die optische Bandlücke bzw. die Tauc-Bandlücke von ungeordneten oder amorphen Halbleitern bestimmen .

Ein Zeitbereichsreflektometer ( TDR ) ist ein elektronisches Messgerät zur Bestimmung der Eigenschaften elektrischer Leitungen durch Beobachtung reflektierter Impulse .