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Die berührungslose Rasterkraftmikroskopie ( nc-AFM ), auch dynamische Rasterkraftmikroskopie ( DFM ) genannt , ist eine Methode der Rasterkraftmikroskopie , die wiederum eine Form der Rastersondenmikroskopie darstellt .
Die Dip-Pen-Nanolithographie ( DPN ) ist eine Rasterkraftmikroskopie- Technik, bei der die Spitze eines Rasterkraftmikroskops (AFM) direkt zur Strukturierung eines Substrats verwendet wird.
Die elektrochemische Rasterkraftmikroskopie ( EC-AFM ) ist eine spezielle Form der Rastersondenmikroskopie (SPM), die die klassische Rasterkraftmikroskopie (AFM) mit elektrochemischen Messungen kombiniert.
Die Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie ( KPFM ), auch Oberflächenpotentialmikroskopie genannt , ist eine berührungslose Variante der Rasterkraftmikroskopie (AFM).
Die Kraftspektroskopie umfasst verschiedene Techniken zur Untersuchung der Wechselwirkungen und Bindungskräfte zwischen einzelnen Molekülen.
Die Quasiteilcheninterferenz -Bildgebung ( QPI ) ist eine Technik der Festkörperphysik , die es einem Rastertunnelmikroskop ermöglicht , die elektronische Struktur eines Materials abzubilden und aus der Abbildung der
Die Rasterkraftmikroskopie ( AFM ) oder Rasterkraftmikroskopie ( SFM ) ist eine hochauflösende Art der Rastersondenmikroskopie (SPM) mit einer nachgewiesenen Auflösung in der Größenordnung von Bruchteilen eines
Die Rastersondenmikroskopie ( SPM ) ist ein Teilgebiet der Mikroskopie , das Oberflächen mithilfe einer physikalischen Sonde abtastet und so Bilder erzeugt.
Ein Rastertunnelmikroskop ( STM ) ist ein Rastersondenmikroskop zur Abbildung von Oberflächen auf atomarer Ebene.