Peter Nellist

Peter David Nellist ist ein britischer Physiker und Materialwissenschaftler und derzeit Professor am Department of Materials der Universität Oxford . Er ist bekannt für seine Pionierarbeit bei der Entwicklung neuer Techniken in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie . ^{[ 1 ]}

Nellist erwarb seinen Bachelor (1991), Master (1995) und Doktortitel (1996) am St John’s College in Cambridge und forschte am Cavendish-Laboratorium bei John Rodenburg , bevor er als Postdoktorand am Oak Ridge National Laboratory (ORNL) in Tennessee bei dem ehemaligen Cavendish-Forscher Stephen Pennycook tätig wurde . ^{[ 2 ]} Achtzehn Monate später kehrte Nellist mit einem Forschungsstipendium der Royal Society nach Cambridge zurück und wechselte an die Universität Birmingham . Er verließ die akademische Welt für vier Jahre, um für Ondrej Krivanek , einen weiteren ehemaligen Pionier der Mikroskopie aus Cambridge , bei dessen neu gegründetem Unternehmen Nion in Seattle zu arbeiten . Anschließend kehrte Nellist ans Trinity College Dublin und schließlich an die Universität Oxford zurück, wo er 2019 zum Co-Leiter des Fachbereichs Materialwissenschaften ernannt wurde. ^{[ 3 ] [ 4 ] [ 5 ]}

Nellists Forschungsschwerpunkt liegt auf der Rastertransmissionselektronenmikroskopie und ihrer Anwendung in der Materialwissenschaft. Insbesondere ist er bekannt für seine Arbeiten zur Elektronen-Ptychographie , zur quantitativen Bildinterpretation und zur Entwicklung von Korrekturlinsen für Elektronenmikroskope ^{[ 1 ] [ 6 ]} , die er als „eine Art Brille für ein Mikroskop“ beschreibt. ^{[ 5 ]}

Mitte der 1990er Jahre arbeitete er mit John Rodenburg am Cavendish-Laboratorium in Cambridge zusammen und entwickelte neue Methoden zur Verbesserung der Auflösung von Rasterelektronenmikroskopen und Transmissionselektronenmikroskopen . ^{[ 7 ] [ 8 ]}

1998 fertigte er in Zusammenarbeit mit Stephen Pennycook vom ORNL die bisher höchstauflösenden Mikroskopaufnahmen von Kristallstrukturen an. ^{[ 9 ] [ 10 ]} Sechs Jahre später erzeugten Nellist, Pennycook und Kollegen am ORNL die ersten Bilder von Atomen in einem Kristall im Sub-Ångström-Bereich, indem sie eine neue Technik zur Korrektur optischer Aberrationen in einem Rastertransmissionselektronenmikroskop anwendeten. ^{[ 11 ] [ 12 ]}

Nellist wurde mit zahlreichen Preisen ausgezeichnet, darunter 2007 die Burton-Medaille der Microscopy Society of America für seinen herausragenden Beitrag zur Mikroskopie, 2013 der Ernst-Ruska -Preis der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie für die Entwicklung der konfokalen Elektronenmikroskopie, 2013 der Birks-Preis der Microbeam Analysis Society sowie 2016 und 2020 die Preise der European Microscopy Society für die beste Publikation im Bereich der Materialwissenschaften. 2020 wurde er zum Fellow der Royal Society gewählt . Er ist Vizepräsident der Royal Microscopical Society (deren Ehrenmitglied er 2020 ebenfalls wurde) ^{[ 13 ]} und Vorstandsmitglied der European Microscopy Society. ^{[ 3 ] [ 5 ]}

• Pennycook, Stephen; Nellist, Peter (Hrsg.). (2011). Rastertransmissionselektronenmikroskopie: Bildgebung und Analyse . New York: Springer. ISBN 978-1-4419-7200-2Die

• Nellist, P.; Chisholm, F.; Dellby, N.; Krivanek, O.; Murfitt, M.; et al. (17. September 2004). „Direkte Sub-Ångström-Abbildung eines Kristallgitters“ . Science . 305 ( 5691): 1741. doi : 10.1126/science.1100965 . PMID  15375260. S2CID  8064440. Abgerufen am 17. März 2022 .
• Varela, M.; Findlay, S.; Lupini, A.; Christen, H.; Borisevich, A.; et al. (März 2004). „Spektroskopische Abbildung einzelner Atome in einem Festkörper“ . Phys. Rev. Lett . 92 (9) 095502. arXiv : cond-mat/0401156 . Bibcode : 2004PhRvL..92i5502V . doi : 10.1103/PhysRevLett.92.095502 . PMID  15089484. S2CID  4792946. Abgerufen am 16. März 2022 .
• Dellby, Niklas; Krivanek, Ondrej; Nellist, Peter; Batson, Philip; Lupini, Andrew (2001). „Fortschritte in der aberrationskorrigierten Rastertransmissionselektronenmikroskopie“ . Journal of Electron Microscopy . 50 (3): 177–185 . doi : 10.1093/jmicro/50.3.177 . PMID  11469406. Abgerufen am 16. März 2022 .
• Nellist, P.; McCallum, B.; Rodenburg, J. (April 1995). „Auflösung jenseits der ‚Informationsgrenze‘ in der Transmissionselektronenmikroskopie“. Nature . 374 (6523): 630–632 . Bibcode : 1995Natur.374..630N . doi : 10.1038/374630a0 . S2CID  4330017 .

• Offizielle Website
• Sehen heißt Glauben: Wie die Beobachtung von Atomen im Elektronenmikroskop zur Entwicklung der Materialien von morgen beiträgt : Ein Vortrag von Peter Nellist im Rahmen eines Schulprojekts, in dem er seine Arbeit auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie erläutert.